4．3．4性能試験

1）試験条件および試験方法

（a）定置通電試験

試験環境：液体ヘリウムに浸漬、印加磁界1T

目標電流：3000A

電流変化率：30A/s

（b）オンオフ動作試験

試験環境：液体ヘリウムに浸漬、印加磁界0〜1T

超電導線の電流：1mA

オフ時間：加熱開始から抵抗が10%および90%発生するまでの時間

オン時間：加熱停止から抵抗が0Ωになるまでの時間

加熱方法（1）ヒータによる加熱

（2）超電導線の自己加熱

加熱量：最大30W

（c）絶縁耐圧試験

試験環境：常温のヘリウムガス雰囲気

線間（超電導リード両端間）：1000V

対地（超電導線〜ケース間）：3000V

（d）加振試験

永久電流スイッチの超電導線に作用する電磁力が磁界1Tのもとで電流3000Aを通電しているときと等価となるような磁界および通電電流とし、永久電流スイッチに次のような振動を加えた。なお、加振試験3においては、比較のため磁界をかけない状態での加振試験も実施した。

（1）加振試験1

磁界2.0T、電流1500A、振動周波数5〜33Hz、全振幅1.0?

（2）加振試験2

磁界1.5T、電流2000A、振動周波数5〜33Hz、全振幅1.0?

（3）加振試験3

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